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【事案の概要】 原告（株式会社東京精密）が、被告（浜松ホトニクス株式会社）の保有する「レーザ加工装置」に関する特許（特許第3990711号）について特許無効審判を請求したところ、特許庁が「審判の請求は成り立たない」との審決をしたため、原告がその取消しを求めた審決取消訴訟である。本件特許は、半導体基板の内部にレーザ光を集光して改質領域を形成し、これを起点として基板を切断するレーザ加工装置に関するものである。原告は、主引用文献である甲1（特開2002-192370号公報）に基づき、本件発明1及び2は進歩性を欠くと主張した。 【争点】 主な争点は、本件発明と甲1発明との相違点1（赤外透過照明により半導体基板を照明し、改質領域を撮像可能な撮像素子を備える構成）の認定の当否及び容易想到性である。原告は、(1)赤外線で半導体基板内部を観察する技術は周知であり、甲1にも赤外線用撮像素子の記載があるから相違点1は存在しない、(2)仮に相違点が存在するとしても、甲1発明に周知技術を適用して相違点1に係る構成に想到することは容易であると主張した。被告は、相違点1の存在は原告自身が審判段階で主張していたものであり禁反言に反すること、改質領域の位置や大きさを確認する必要性は技術常識ではなかったこと等を主張した。 【判旨】 知財高裁は、原告の請求を棄却した。まず相違点1の認定について、甲1の図13はレーザ光の波長とシリコン基板内部の透過率の関係を開示するにすぎず、甲1の段落0091も赤外線の反射光を利用したフォーカス調整と表面の撮像を示唆するにすぎないとして、構成F・Gが甲1に記載されているに等しいとはいえないと判断した。次に容易想到性について、甲1には改質領域の位置や大きさを確認する必要性が記載されておらず、そのような必要性が周知又は技術常識であるとも認められないとして、動機付けを否定した。また、甲4・5で観察対象とされる「クラック等の欠陥」は半導体ウェハ内部に不可避的に生じるものであり、甲1の改質領域とは位置づけが全く異なるとした。なお、本件審決が動機付け否定の理由として挙げた構成F・Gの技術的意義については本件明細書に記載がなく相当でないとしつつも、結論に影響しないとした。